DIP for 7200 GC/Q-TOF
La inyección de muestra directa (DIP) abre nuevos campos de aplicación para el sistema Agilent 7200 GC/Q-TOF:
La exacta información de masa y la alta resolución de masas del Analizador de masas Q-TOF también permiten el análisis de muestras sensibles que no son accesibles por GC ni siquiera con la preparación previa de muestras.
Además de las fuentes de iones EI y CI, también se puede acoplar a las fuentes FI (campo de ionización), FD (Desorción de Campo), y LIFDI (inyección de líquido por Desorción de Campo de ionización). Estas técnicas de ionización suave, ofrecidas exclusivamente por SIM para este MS, proporcionan picos de iones moleculares incluso en analitos muy sensibles (por ejemplo, los complejos organometálicos).
Características DIP-Q-TOF:
- Inyección de muestra de entrada directa para análisis de volátiles en muestras sólidas.
- Inserción automática de la muestra en el vacío de la fuente de iones (EI/CI), impide que el MS se ventile accidentalmente.
- La Temperatura de vaporización está programada en la fuente de iones para eliminar interferencias de la matriz.
- Todos los beneficios del análisis Q-TOF, (información exacta de masas y resolución), alta sensibilidad y selectividad MS/MS.
- Evaluaciones rápidas para la seguridad de calidad, identificación de analitos desconocidos, análisis de sustancias en matrices complejas.
- El rango de aplicación abarca análisis de alimentos y medio ambiente, análisis metabólicos, análisis de sustancias naturales, etc.
- Medición del DIP sin retirar la interfaz/Q-TOF GC, que permite el cambio rápido entre GC/MS y el modo DIP/MS.
- Fácil manejo del sistema a través de software DIP (programa de temperatura para calentar la varilla de empuje) y el Software Misa Hunter de Agilent (software espectral).
- Soluciones completas que consisten en el Sistema DIP junto con el equipo Agilent 7200 GC/Q-TOF y el software adecuado.
